測(cè)量原理:
本儀器測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法,即通過(guò)X軸、Z1軸傳感器,測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn),通過(guò)電器組件,將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔?/span>PC機(jī),軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理,標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。
此款儀器已可同國(guó)外進(jìn)口儀器性能相比,各方面指標(biāo)已達(dá)到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求.
設(shè)備參數(shù):
測(cè)量范圍 | X方向驅(qū)動(dòng)器 | 140mm | |
Z1 | 輪廓度量程 | 20mm | |
Z1 | 粗糙度量程 | ±1500μm | |
Z1 | 分辨率0.02微米 | ||
Z軸高度(立柱) | 400mm | ||
可檢測(cè)最小內(nèi)孔 | 5mm | ||
輪廓技術(shù)參數(shù) | 線性精度 | ±(1.2+|0.12H|)μm | |
圓弧 | ±(1.2+R/12)μm | ||
角度 | ±1′ | ||
直線度 | 0.7μm/100mm | ||
粗糙度技術(shù)參數(shù) | 線性精度 | ≤±5% | |
殘值噪聲 | ≤0.005μm | ||
重復(fù)穩(wěn)定性 | 試值3% | ||
截止波長(zhǎng) | 0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm | ||
評(píng)定長(zhǎng)度 | λcX1、2、3、4、5 | ||
傳感器 | 芯片類型 | 美國(guó) | |
分辨率 | 0.02μm | ||
產(chǎn)地 | 美國(guó) | ||
爬坡角度 | 上升77度 下降87度 | ||
粗糙度評(píng)定參數(shù) | Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2 | ||
測(cè)量速度 | 0.05-20mm/s | ||
Z軸速度 | 0.05-20mm/s |