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BEM-SPMI-400輪廓測量儀

產(chǎn)品編號(hào):BEM-SPMI-400

上架時(shí)間: 2024/09/23

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詳情介紹

測量原理:

  本儀器測量原理為直角坐標(biāo)測量法,即通過X軸、Z1軸傳感器,測繪出被測零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn),通過電器組件,將傳感器所測量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔?/span>PC機(jī),軟件對所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理,標(biāo)注所需的工程測量項(xiàng)目。

  此款儀器已可同國外進(jìn)口儀器性能相比,各方面指標(biāo)已達(dá)到國際標(biāo)準(zhǔn),儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及國際標(biāo)準(zhǔn)ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求

設(shè)備參數(shù):

測量范圍

X方向驅(qū)動(dòng)器

140mm

Z1

輪廓度量程

40mm

Z1

分辨率0.1微米

Z軸高度(立柱)

400mm

可檢測最小內(nèi)孔

5mm

輪廓技術(shù)參數(shù)

線性精度

±(1.2+|0.12H|)μm

圓弧

±(1.2+R/12μm

角度

±1′

直線度

0.7μm/100mm

傳感器

芯片類型

美國

分辨率

0.1μm

產(chǎn)地

美國

爬坡角度

上升77度 下降88度

測量速度

0.05-20mm/s

Z軸速度

0.05-20mm/s